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光源特色-Micro-Vu高精度影像測量儀

[ 發布時間:2021-01-13   閱讀:4229次 ]

光源.JPG

 

Micro-Vu影像測量儀系統中,光源是完全可程式控制的。每一階的光源亮度都可以儲存在程式中,并且每個元素的每個工具都可做不同的光源設定。

 

程式可以在不同儀器之間相互使用。每一部儀器都可執行光源校正,所以一部儀器的光源亮度可以在另一部儀器復制。

 


高效的光源功能




表面光源


表面光源是在鏡頭下方由多顆LED燈珠組成,光源的角度從27°到75°。


表面光源可以用全域控制、環形控制、1/8圓或1/4圓的方向區塊控制或是單獨的區段控制等模式來選擇使用。


依據系統的不同,所搭配使用的表面光源也會有2環標準環形光和5環大型環形光的差異,每個區塊都可以隨意控制,使被測工件的影像更清晰去除陰影部分的干擾。


大型環形光:可調整為5環,8區域,40小區塊

標準環形光:可調整為2環,8區域,16小區塊


圖片2.jpg

大型環形光

圖片3.jpg

標準環形光


使用下方的按鍵來切換選擇,右邊的滾動條來調整亮度。使用者可以同時使用多個區段的光源,先按住Ctrl鍵,再點選需使用的光源區段,或是用鼠標拖拽框選需使用的光源區段。


五環表面光源使用的范例:


圖片4.jpg


全域控制

圖片5.jpg

環形控制



圖片7.jpg

區塊控制

圖片8.jpg

區段控制





輪廓光源


輪廓光源由工件的下方發出,最適合用來測量穿透孔與工件邊緣。單獨使用輪廓光源來觀察工件會得到一個輪廓明顯,邊緣對比度高的黑白影像。





同軸光源


同軸光源由鏡頭的側面發出,透過鏡頭內的半反射鏡反射,然后聚光向下穿透鏡頭中心照射在工件表面。同軸光源最常應用在高倍率測量、盲孔以及平坦面上的元素測量。





提供長與短工作距離的選擇


使用2X物鏡會縮短鏡頭與工件之間的工作距離,而因為離工件較近所以也須使用2X表面環形光源。由于2X表面環形光源的亮度更強且光線入射角度更接近水平,更有利于觀察與測量特殊邊緣與凹槽;


相對地,未安裝2X物鏡時,工作距離會較長,1X表面環形光源的光源亮度也較暗一些,光線入射角度更接近垂直。



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